智博通科技有限公司(图)-菲尼克斯测厚仪-测厚仪
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涂层测厚仪
引起涂镀层测厚仪测量误差大的原因我们在以前的文章中已经介绍很清楚了，这里我们在简单介绍一下引起测量误差较大的原因主要有：基体金属磁化、基体金属厚度过小、边缘效应、工件曲率过小、表面粗糙度过大、磁场干扰探头的放置方法等，新来的朋友可以参考仪器的文章熟悉一下我们就不一一做介绍了。
引起涂镀层测厚仪测量误差大的原因我们在以前的文章中已经介绍很清楚了，这里我们在简单介绍一下引起测量误差较大的原因主要有：基体金属磁化、基体金属厚度过小、边缘效应、工件曲率过小、表面粗糙度过大、磁场干扰探头的放置方法等，电解式测厚仪，新来的朋友可以参考仪器的文章熟悉一下我们就不一一做介绍了。
MC-3000B涂层测厚仪
MC-3000B一体式涂层测厚仪，磁性覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。通过使用不同的测头，还可满足多种测量的需要。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。本仪器符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
OXFORD-760台式测厚仪
OXFORD-760可用于测量铜和孔内镀铜的厚度，独特的设计探头使测量准确，不受板内层的影响。
OXFORD-760台式测厚仪铜和孔内镀铜的厚度，独特的设计探头使测量准确，测厚仪，不受板内层的影响。
OXFORD-760台式测厚仪铜和孔内镀铜的厚度，独特的设计探头使测量准确，不受板内层的影响。
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